- Skontenut ilicon:Il-kontenut tas-silikon tas-silikon tal-metall 1101 huwa ġeneralment meħtieġ li jkun 'il fuq minn 99.99%, u huwa materjal tas-silikon ta' purità ultra-għolja użat biex jipproduċi prodotti b'rekwiżiti ta 'purità għolja (bħal silikon monokristallin u polysilicon).
- Kontenut tal-ħadid:Il-ħadid, bħala l-element ewlieni tal-impurità, għandu jiġi kkontrollat b'mod strett. Il-kontenut tal-ħadid fis-silikon tal-metall 1101 normalment huwa meħtieġ li jkun mhux aktar minn 0.1%.
- Kontenut tal-aluminju:Il-kontenut tal-aluminju għandu impatt kbir fuq il-proprjetajiet elettriċi u r-reżistenza għall-korrużjoni tas-silikon, u l-kontenut tal-aluminju tas-silikon tal-metall 1101 għandu jkun inqas minn 0.01%.
- Kontenut tal-kalċju:Bħala element ta 'impurità, il-preżenza tal-kalċju se taffettwa s-saħħa mekkanika u d-durabilità tas-silikon, u l-kontenut huwa meħtieġ li jkun mhux aktar minn 0.01%.
- Kontenut tal-fosfru:Il-fosfru huwa wieħed mill-impuritajiet ta 'ħsara fis-silikon, li jaffettwa l-konduttività elettrika tas-silikon, u ġeneralment jeħtieġ kontenut ta' fosfru ta 'inqas minn 0.001%.
- Kontenut tal-kubrit:Il-kontenut ta 'kubrit għandu jkun ikkontrollat b'mod strett, minħabba li se jżid il-fraġilità tas-silikon, u l-kontenut ta' kubrit fis-silikon tal-metall 1101 huwa meħtieġ li jkun mhux aktar minn 0.001%.
- Kontenut tal-karbonju:L-impuritajiet tal-karbonju jistgħu jaffettwaw il-proprjetajiet elettroniċi tas-silikon, għalhekk kontenut tal-karbonju ta 'inqas minn 0.005% huwa meħtieġ.
- Kontenut tal-kloru:Il-kontenut tal-kloru għandu jkun ikkontrollat b'mod strett fil-produzzjoni ta 'silikon ta' purità għolja, li ġeneralment jeħtieġ inqas minn 0.001%.
- Distribuzzjoni tad-daqs tal-partiċelli:Il-metall tas-silikon 1101 ġeneralment jiġi pproċessat f'partiċelli jew trab, u d-distribuzzjoni tad-daqs tal-partiċelli tiegħu jeħtieġ li tissodisfa r-rekwiżiti tal-utenti. Id-daqs tipiku tal-partiċelli jvarja minn 1-10mm, u applikazzjonijiet speċifiċi jistgħu jeħtieġu distribuzzjoni aktar preċiża.
- Densità u uniformità tal-purità:Id-densità hija meħtieġa li tkun fil-medda standard biex jiġi żgurat li ma jkunx hemm difetti ovvji ġewwa l-materjal u li għandu proprjetajiet fiżiċi uniformi.
- Spettroskopija ta' Emissjoni tal-Plażma akkoppjata b'mod induttiv (ICP-OES):Użat biex jinstabu oligoelementi fis-silikon, inklużi impuritajiet bħal ħadid, aluminju u kalċju.
- Spettrometrija tal-Massa tal-Plażma akkoppjata b'mod induttiv (ICP-MS):Determinazzjoni preċiża ta 'livelli baxxi ħafna ta' elementi ta 'impurità bħall-fosfru u l-kubrit.
- Analiżi kimika:Analiżi kimika mxarrba tradizzjonali tintuża biex tiskopri l-purità tas-silikon, li tista 'tiddetermina b'mod preċiż il-kontenut tal-elementi ewlenin u l-impuritajiet.
- Spettroskopija tal-fluworexxenza tar-raġġi X (XRF):Għall-iskoperta rapida ta 'elementi ewlenin u impuritajiet fis-silikon, speċjalment għall-kontroll tal-kwalità fil-proċess ta' produzzjoni.
- Analiżi tad-daqs tal-partiċelli:Id-distribuzzjoni tad-daqs tal-partiċelli hija determinata minn analizzatur tad-daqs tal-partiċelli tal-lejżer biex jiġi żgurat li tissodisfa r-rekwiżiti tal-utent.
Jekk inti interessat, jekk jogħġbok ikkuntattjana hawn taħt.

